El estándar de prueba PID se basa en la combinación del estándar de prueba de rendimiento del módulo fotovoltaico IEC62804, el estándar de prueba de seguridad del módulo fotovoltaico IEC61215, IEC61730, que puede predecir si el efecto PID ocurrirá durante el uso de módulos.
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Potential-induced degradation (PID) is a potential-induced performance degradation in crystalline, caused by so-called stray currents. This effect may cause power loss of up to 30 percent. The cause of the harmful leakage currents, besides the structure of the, is the voltage of the individual photovoltaic (PV) modules to the. In most ungrounded PV systems, the PV modules.
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